ASTM E 1217-1987 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 21:47:17  浏览:9054   来源:标准资料网

【英文标准名称】:DeterminationoftheSpecimenAreaContributingtotheDetectedSignalinX-RayPhotoelectronSpectroscopyandAugerElectronSpectroscopy
【原文标准名称】:用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积
【标准号】:ASTME1217-1987
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1987
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:工艺;螺旋电子光谱仪;分析;精整;X射线;光谱学;金属;试样;信号;表面
【英文主题词】:augerelectronspectroscopy;surfaces;testspecimens;finishes;spectroscopy;processes;signals;analysis;x-rays;metals
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语